Sviluppo di un metodo per la rilevazione di difetti sub-superficiali mediante termografia IR su componenti AM

The thesis work carried out analyzed a set of 40 specimens using active IR thermographic analysis with direct current (DC) Joule effect excitation. The specimens were created with intentionally introduced defects, whose shape, size, and depth are known parameters selected across a range of values that challenge the detectability limits of the technique under analysis. The defects also feature three different orientations relative to the current flow within the specimen. In addition to deepening the understanding of the influence of size, shape, depth, and spatial orientation, the 40 specimens enabled the development and optimization of a robust research methodology for this technology.

Il lavoro di tesi svolto ha analizzato un set di 40 provini mediante analisi termografica IR attiva con eccitazione per effetto Joule da corrente continua. I provini sono stati creati con difetti intenzionalmente realizzati, la cui forma, dimensione e profondità sono parametri noti e scelti su una gamma di valori che sfida i limiti di rilevabilità della tecnica in analisi. I difetti hanno anche 3 direzioni differenti rispetto al passaggio della corrente nel provino. Oltre ad approfondire la conoscenza sull'influenza di dimensione, forma, profondità e orientamento spaziale, i 40 provini hanno permesso di sviluppare e ottimizzare un metodo di ricerca robusto per tale tecnologia.